功率器件测试系统
功率器件测试系统集成信号发生器、高压直流电源、测试主回路、高压保护模组、测试夹具、温控系统、检测系统、人机交互等部件于一体，实现功率半导体器件（IGBT、SiC、Diode）动态参数测试，以及配套门极驱动器数匹配测试。产品系列囊括信号发生器、基础功能型测试平台、自动集中型测试系统，并支持需求定制开发。
产品特点：
? 安全性高：支持远程操控，多重高压保护互锁，有效保护操作人员安全；
? 测试方便：专用夹具设计，更换测试便捷、高效，检测系统自动生成测试数据及报表；
? 功能强大：支持双脉冲测试、短路测试、连续周期脉冲测试、正弦脉冲测试功能；
? 应用较广：支持IGBT单管/模块、SiC单管/模块、二极管模块、功率模组、门极驱动器参数测试；
? 信号丰富：提供单/双/多/连续/SPWM脉冲信号；
? 可调性强：测试电压电流可调、脉冲模式即宽度可调、上下桥臂一键切换，负载电感参
数可调，门极驱动器参数可调、测试回路杂散电感可调、测试结温可调；
? 拓展性强：可增加测试部件，实现测试系统集成。
性能指标
外形尺寸
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产品种类 | 基础功能型测试平台 | 自动集中型测试系统 | |
测试对象 | IGBT/SIC-MOS单管、IGBT/SIC-MOS模块、二极管、功率模组、门极驱动器 | ||
功能模式 | 双脉冲模式/短路模式/连续周期脉冲模式/正弦脉冲模式 | ||
测试参数 | 开通延时Tdon、上升时间tr、关断延时Tdoff、下降时间tf、di/dt、dv/dt、开通损耗Eon、关断损耗Eoff、短路电流Isc、短路时间tp、二极管正向电压VF、反向恢复电流IRM、反向恢复损耗Erec、杂散电感、关断尖峰、SOA边界参数测试、结温参数测试、并联均流参数测试、驱动器参数测试 | ||
电压等级 | 650V/1200V/1700V/3300V/4500V/6500V | ||
电流峰值 | 3000Amax（可定制） | ||
短路电流 | 5000Amax（可定制） | ||
脉冲信号 | 单脉冲/双脉冲/多脉冲/SPWM | ||
脉冲参数 | 脉宽范围：0.5us~100us；脉宽分辨率：0.1us | ||
SPWM参数 | 基波频率、幅值、开关频率、死区值范围内可调 | ||
栅极电流 | 30Amax（可定制） | ||
栅极电阻 | 根据测试条件进行手动更换 | ||
负载电感 | 20/45/70/100/150/230/345/520/680μH多档可调（可定制） | ||
基本部件 | 信号发生器、高压直流电源、测试主回路、门极驱动器、人机界面、可调负载电感、高压保护模组 | ||
定制部件 | 测试夹具、温控系统 | 测试夹具、温控系统、数据检测系统、上位机集成系统 | |
基础功能 | 功率半导体器件/模组开关特性测试、短路特性测试 | ||
模块上下桥臂自动切换功能 | |||
门极驱动器参数及特性测试功能 | |||
主回路杂散电感测试功能 | |||
IGBT模块的串并联动态测试功能 | |||
选配功能 | 栅极驱动电压可调功能：±20V范围内可调（选配定制） | ||
功率半导体器件结温特性测试功能，常温~175℃（选配定制） | |||
上位机控制系统（选配） | 环温测试箱（选配） | ||
检测系统（选配） | 门极参数可调功能（选配） | ||
特定功能 | / | 子系统集成统一上位机控制功能 | |
/ | 一键测试并自动生成测试数据报表功能 | ||
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